JED-2300/2300F系列掃描電鏡能譜儀，可進(jìn)行非導(dǎo)電元素微區(qū)分析。使用JEOL*的軟件“ Analysis Station”，通過(guò)與SEM的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)聯(lián)動(dòng)使用，可以進(jìn)行大范圍的觀察和分析，可實(shí)現(xiàn)分析結(jié)果和分析位置自動(dòng)對(duì)應(yīng)。掃描電鏡能譜儀通過(guò)檢測(cè)被電子束激發(fā)出的樣品的特征X射線，確定樣品含有的元素及成分比，可以進(jìn)行微區(qū)的點(diǎn)分析、線分析及面分析。

• 適用JSM-IT200/IT500 等

• 可以在SEM圖像上分析位置，開始EDS分析。

• VID

         將采集的X射線譜圖和Visual PeakID（VID）合成的譜圖進(jìn)行比較，定性結(jié)果可以通過(guò)視覺、 數(shù)值判斷。

• Play Back (回放) 功能
  用JEOL制造的EDS采集的元素面分布圖，不僅保存了每一幀中各個(gè)像素點(diǎn)的譜圖，還對(duì)每一幀中電子束形成的圖像進(jìn)行了存儲(chǔ)。利用Play back功能，可以進(jìn)行多角度的分析如觀測(cè)譜圖等隨時(shí)間的變化等。測(cè)試后數(shù)據(jù)能夠回放，可以觀察到樣品按時(shí)間順序發(fā)生的變化，這是至今為止無(wú)法實(shí)現(xiàn)的。此外，利用Play Back功能還可以截取任意的畫面。

• Smile Station™ 2

• Smile Station™2功能通過(guò)在多個(gè)視野上自動(dòng)進(jìn)行分析，生成SEM和元素面分布圖的無(wú)縫蒙太奇圖像，也可以在取得的視野上進(jìn)行連續(xù)的元素面分布和點(diǎn)分析等。

• Dry SD 檢測(cè)器

• Dry SD 檢測(cè)器（SDD檢測(cè)器）與傳統(tǒng)的EDS檢測(cè)器不同，不需要液氮制冷。使用快速簡(jiǎn)單，同時(shí)實(shí)現(xiàn)了高分辨率和高計(jì)數(shù)率處理。